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產(chǎn)品分類(lèi)產(chǎn)品中心/ products
日本inter-action光源裝置 IA-OPT576WC 這是用于測(cè)試圖像傳感器的光源裝置。它內(nèi)置于測(cè)試頭中，將受控光照射到圖像傳感器上?？梢詫?duì)每個(gè)照度進(jìn)行色度校正，從而可以照射具有高色度再現(xiàn)性的光。 主要特點(diǎn)：1.高照度、廣照射區(qū)域光源裝置。 2.色度安定性 +/-0.3% 未満 3.遠(yuǎn)場(chǎng)性1.0度以下
更新時(shí)間：2024-09-04
日本inter-action光源裝置 IA-OPT585WXR 這是用于測(cè)試圖像傳感器的光源裝置。它內(nèi)置于測(cè)試頭中，將受控光照射到圖像傳感器上?？梢赃M(jìn)行色溫校正。 主要特點(diǎn)： 1.高照度、廣照射區(qū)域光源裝置。 2.全照度域色溫度變化率士3%以下。 3.遠(yuǎn)心率1.0度以下
更新時(shí)間：2024-09-04
日本espec小型恒溫恒濕空調(diào)機(jī)組 MBH-150 小型恒溫恒濕空調(diào)裝置“Lab Ace Mini”作為JIS測(cè)量和檢查測(cè)試以及穩(wěn)定性和長(zhǎng)期測(cè)試的專(zhuān)用空調(diào)，提供高精度的環(huán)境測(cè)試空間。它是一種緊湊型，可以安裝在作業(yè)操作員旁邊。
更新時(shí)間：2024-09-04
日本tsuruga電阻計(jì) 356G-H 特點(diǎn)： 1.電阻測(cè)量 5 個(gè)量程 30mΩ/300mΩ/3Ω/30Ω/300Ω 2.30mΩ量程的測(cè)量電流為1A，分辨率為0.1μΩ。 3.具有30個(gè)花樣程序記憶功能 4.RS-232C，具有測(cè)量值平均值計(jì)算功能 5.采用BlueBack-LCD，可視性極的佳
更新時(shí)間：2024-10-08
日本adtec 雙極直流電源BPO2OA 特點(diǎn) 1.可在一臺(tái)電源上實(shí)現(xiàn)多種輸出模式 可變Duty，雙極輸出，直流輸出，直流脈沖方式輸出 2.輸出電壓1000V的高耐電壓規(guī)格，采用SiC功率模塊 3.高速的數(shù)位硬件結(jié)構(gòu)，可實(shí)現(xiàn)高速電弧遮斷功能 4.為密閉型的水冷冷卻結(jié)構(gòu),不受散熱影響,并且設(shè)置環(huán)境也適合廣大范圍
更新時(shí)間：2024-10-09
日本adtec 高周波射頻電源TX系列 特點(diǎn) 1.搭載耐反射AB級(jí)線性增幅器 2.為經(jīng)濟(jì)性，小型的半機(jī)柜型（舊型相比：寬度，重量為1/2以下） 選配功能 1.脈沖功能 2.VF（可變頻率） 3.電弧抑制功能
更新時(shí)間：2024-10-09
日本tsuruga高速交流耐壓測(cè)試儀8507 特點(diǎn)： 1.耐壓測(cè)試：最快50ms 2.漏電流判斷采用峰值保持法 3.顯示器為有機(jī)EL顯示器，可視性良好 4.記憶8種耐壓測(cè)試條件 5.接口 RS-232C 標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備
更新時(shí)間：2024-10-08
日本YASUDA 熔體流動(dòng)指數(shù)試驗(yàn)機(jī)ISO-1133 產(chǎn)品概述 主要用于粉末、顏料、紙張、紡織品等的色彩管理。 可以同時(shí)測(cè)量顏色和光澤，同時(shí)保持與 CM-3610A 的數(shù)據(jù)兼容性（*使用 SCI/LAV 時(shí)） 使用場(chǎng)景：紡織/服裝
更新時(shí)間：2025-02-26
日本tsuruga耐壓絕緣測(cè)試儀 8505 特點(diǎn)： 1.耐壓測(cè)試電壓AC5kV（100VA） 2.絕緣電阻測(cè)試電壓 DC25 至 1000V（6 個(gè)量程） 3.具有耐壓測(cè)試電壓上升時(shí)間和下降時(shí)間設(shè)定功能 4.具有遠(yuǎn)程 I/O、RS-232C、USB 接口
更新時(shí)間：2024-10-08
日本nasgiken簡(jiǎn)易微量金屬污染物回收裝置 SC系列 SC-3100 ●通過(guò)連接PC創(chuàng)建各種收集模式，并從硅晶片的表面和側(cè)面（斜角部分）收集（采樣）微量金屬污染物。 SC-8100 ●具有即使在親水狀態(tài)的晶圓上也能收集污染物的功能，并且可以對(duì)硅以外的材料制成的晶圓或因體蝕刻等而導(dǎo)致表面變得粗糙的晶圓進(jìn)行采樣。 SC-9100 ●具有即使在親水狀態(tài)的晶圓上也能收集污染物的功能
更新時(shí)間：2024-09-05
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